Begrepsinformasjon
Anbefalt term
Atomkraftmikroskopi
Type
-
Innholdsbeskrivende emne
Overordnede begreper
Henvisningsterm
- AFM
- Atomkraftmikroskopi
- Atomærkraftmikroskopi
- Rasterkraftmikroskopi
- SFM
- Sveipkraftmikroskopi
Hører til inndeling
Identifikator
- REAL011864
På andre språk
-
engelsk
-
Scanning force microscopy
URI
http://data.ub.uio.no/realfagstermer/c011864
{{label}}
{{#each values }} {{! loop through ConceptPropertyValue objects }}
{{#if prefLabel }}
{{/if}}
{{/each}}
{{#if notation }}{{ notation }} {{/if}}{{ prefLabel }}
{{#ifDifferentLabelLang lang }} ({{ lang }}){{/ifDifferentLabelLang}}
{{#if vocabName }}
{{ vocabName }}
{{/if}}